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| 儀器名稱： | X射線光電子能譜(XPS) | 廠商： | 英國(guó)VG公司 |
| 型號(hào)： | MICROLAB MK II | 購(gòu)進(jìn)年份： | |
| 聯(lián)系人email： | test@ustbtest.com | 聯(lián)系電話： | (010) 6233 3720 |
| 性能參數(shù)： | 對(duì)于塊狀和薄膜試樣直徑不要超過(guò)8mm，厚度不要超過(guò)3mm；對(duì)于粉末試樣，應(yīng)在烘烤箱內(nèi)烘烤后才能測(cè)試。 | ||
| 功能用途： | 主要用于固體樣品表面的組成、化學(xué)狀態(tài)分析。能進(jìn)行定性、半定量及價(jià)態(tài)分析。廣泛應(yīng)用于聚合物、無(wú)機(jī)化合物、有機(jī)化合物、催化劑、涂層材料、納米材料、礦石等各種材料的研究。 | ||
