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檢 測(cè) 項(xiàng) 目 介 紹 表 | ||
檢測(cè)參數(shù) | 取向分析 |
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常規(guī)儀器 | X射線衍射儀 | |
聯(lián)系電話 | 010-62333720 | |
test@ustbtc.com | ||
檢測(cè)周期 | 5-10個(gè)工作日 | |
檢測(cè)參數(shù)介紹: 單晶取向的測(cè)定就是找出晶體樣品中晶體學(xué)取向與樣品外坐標(biāo)系的位向關(guān)系。一般用勞埃法單晶定向,其根據(jù)是底片上勞埃斑點(diǎn)轉(zhuǎn)換的極射赤面投影與樣品外坐標(biāo)軸的極射赤面投影之間的位置關(guān)系。 | ||
測(cè)試要求: 樣品要求:樣品為塊狀樣品,尺寸20*25mm, | ||