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| 儀器名稱： | TTRⅢ多功能X射線衍射儀 | 廠商： | 日本理學(xué)公司 |
| 型號(hào)： | TTRⅢ | 購(gòu)進(jìn)年份： | |
| 聯(lián)系人email： | test@ustbtc.com | 聯(lián)系電話： | (010) 6233 3720 |
| 性能參數(shù)： |
1.X射線發(fā)生器 最大額定輸出功率: 18KW 管電壓: 20-60kV(穩(wěn)定度<+0.01%) 管電流: 10-300mA 靶材: Cu 焦點(diǎn)尺寸: 0.5mm x 10mm 2.測(cè)角儀 垂直式θ/θ測(cè)角儀，樣品水平放置不動(dòng) 控制方式: θs/θd連動(dòng)和θs/θd單動(dòng) 測(cè)角儀半徑: 285mm 測(cè)量范圍（2θ）：-10～154° 最小步長(zhǎng)和重復(fù)性： 1°/10000 掃描速度（2θ）： 0.0002～100°/分 掃描方式：連續(xù)掃描/步進(jìn)掃描 單色器：石墨晶體 3.計(jì)數(shù)器 閃爍計(jì)數(shù)器S.C. 線性計(jì)數(shù)：70萬cps 最大計(jì)數(shù)：100萬cps 4.多層膜反射鏡 使用波長(zhǎng)：CuKα 出射角度：≤0.06°(普通5°) Kα:Kβ：≥99.5% 聚焦光路和平行光路自動(dòng)切換 |
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| 功能用途： | TTRⅢ多功能X射線衍射儀是日本理學(xué)公司最新推出的一款集粉末衍射、應(yīng)力和極圖分析、小角散射、薄膜分析等為一體的旗艦級(jí)X射線分析設(shè)備，可以進(jìn)行材料的物相鑒定及定量分析；原子排列與占位分析；納米材料的晶粒度和顆粒度測(cè)定；應(yīng)力、織構(gòu)、取向度和結(jié)晶度的測(cè)定；薄膜物相及物性分析等。 | ||
